Профилометры

Системы измерения толщины пленок были разработаны для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок. Лабораторные системы анализа толщины пленок, используются, например, в полупроводниковой промышленности, каждая тонкая пленка осажденная на подложке должна быть получена на основе точного дизайна и чертежа. Система анализа толщин тонких пленок используется для контроля процесса изготовления и определения уровня качества продукта путем измерения толщины тонких пленок. 

  • Фильтры
Категория: Профилометры
Производитель: Chotest
Номер модели. SuperView W3
Источник света Зеленый светодиод
Видеосистема 1024×1024
Стандартное поле зрения 0,98 × 0,98 мм
Максимальное поле зрения 6.0 × 6.0 мм (опция)
Держатель объектива 3 отверстия-руководство пользователя
Категория: Профилометры
Производитель: Chotest
Номер модели. SuperView W1 SuperView W1-Pro
Источник света Зеленый светодиод
Видеосистема 1024×1024
Стандартное поле зрения 0,98 × 0,98 мм
Максимальное поле зрения 6.0 × 6.0 мм (опция)
Держатель объектива 3 отверстия-руководство пользователя
Категория: Профилометры
Производитель: Chotest
Артикул № SJ5718
(1) Ось X
Диапазон измерений (0 ~100) мм
Ошибка индикации ± (0,6 + 2L /100) мкм,
L - горизонтальная измеряемая длина в мм
Разрешение 0,01 мкм
Точность 0,5 мкм /100 мм
Скорость сканирования (0,05 ~ 5) мм / с
Скорость перемещения (0 ~ 10) мм /с
(2) Ось Z0
Диапазон измерений ±30 мм
Ошибка индикации ± (0,6 + | 5Ч |/100) мкм
H - измеряемая высота по вертикали в мм
Разрешение 0,1 мкм
(3) Ось Z
Диапазон измерений (0 ~300) мм
Скорость перемещения (0 ~ 10) мм /с
Категория: Профилометры
Производитель: SNU Precision

Лазерный прифилометр SIS-1200 PLUS был разработана для исследования таких объектов и материалов как LCD, MEMS, тонких полупроводниковых пластин-носителей, поверхностей высокоточной обработки, оптоволоконных материалов и многих других. Прибор использует усовершенствованный метод фазовой сканирующей интерферометрии и гарантирует высокую точность исследований, высокоточный анализ шероховатости поверхностей, и характеризацию параметров поверхности.

Категория: Профилометры
Производитель: K-MAC

 3D профилометр OV-SPI 500, обеспечивает бесконтактный и неразрушающий благодаря измерения использованию метода измерения интерферометрии и сканированию белого света. 3D профилометр интерферометр OV-SPI500Благодаря установке ПЗС-камеры, возможно проведение измерений и получение результатов в режиме реального времени, результаты отображаются с 3D отображение данных через перпендикулярное разрешение блока нано модуля. Возможность одновременного измерения толщины, показателя преломления и критических размеров, является отличительной особенностью OV-SPI 500, что расширяет его возможности, обеспечивая широкий спектр применения