Лазерные микроскопы

В конфокальной лазерной микроскопии эмиссионное излучение вне фокуса отсекается точечной диафрагмой в отличие от многофотонной лазерной микроскопии, где фонового излучения не возникает вообще. Полученные серии изображений на различных глубинах фокальной плоскости внутри образца позволяют реконструировать трехмерное изображение. В конфокальных лазерных микроскопах используется точечная подсветка от одномодового оптоволоконного лазера непрерывного действия. Таким образом происходит оптическое разделение. Лазерное излучение коллимируется и используется для подсветки сканируемого образца. Свет от образца попадает на объектив и проходит через сканирующую систему до момента попадания на детектор. Перед детектором размещена точечная диафрагма с ограничением дифракции – пинхол.

  • Фильтры
  • а
  • б
  • в
  • г
  • д
  • е
  • ё
  • ж
  • з
  • и
  • й
  • к
  • л
  • м
  • н
  • о
  • п
  • р
  • с
  • т
  • у
  • ф
  • х
  • ц
  • ч
  • ш
  • щ
  • э
  • ю
  • я
Производитель: ООО "Радоника"

Микроскоп комбинационного рассеяния (Раман) Рамановский микроскоп сочетает возможности рамановского спектрометра анализатора NOVA и микроскопа Olympus BX-43, адаптируя его для измерений как на пропускание, так и на отражение.

Производитель: Optosky

Полностью автоматизированный автофокусный рамановский микроскоп ATR8500 объединяет в систему два или три лазера, сочетая в себе преимущества рамановского спектрометра и микроскопа, чтобы сделать возможным «видимое зрением должно быть проанализировано». Визуализирование точного положения с помощью платформы с анализом комбинационного рассеяния, с помощью чего можно получать рамановский сигнал образцов с различных поверхностей, в то время как синхронизация по позиции микрообласти с помощью ПК значительно улучшает точность координат.

Производитель: Lasertec

Многофункциональный высокопроизводительный световой конфокальный и лазерный конфокальный микроскоп OPTELICS HYBRID обладает целым рядом преимуществ: 2 вида конфокальной оптики в одном микроскопе, интерферометр на фазовом сдвиге, возможность наблюдения в дифференциально интерференционном контрасте, измерение толщин тонких пленок методом спектроскопической рефракции.