• Фильтры
  • а
  • б
  • в
  • г
  • д
  • е
  • ё
  • ж
  • з
  • и
  • й
  • к
  • л
  • м
  • н
  • о
  • п
  • р
  • с
  • т
  • у
  • ф
  • х
  • ц
  • ч
  • ш
  • щ
  • э
  • ю
  • я
Категория: Профилометры
Производитель: K-MAC

 3D профилометр OV-SPI 500, обеспечивает бесконтактный и неразрушающий благодаря измерения использованию метода измерения интерферометрии и сканированию белого света. 3D профилометр интерферометр OV-SPI500Благодаря установке ПЗС-камеры, возможно проведение измерений и получение результатов в режиме реального времени, результаты отображаются с 3D отображение данных через перпендикулярное разрешение блока нано модуля. Возможность одновременного измерения толщины, показателя преломления и критических размеров, является отличительной особенностью OV-SPI 500, что расширяет его возможности, обеспечивая широкий спектр применения

Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок

Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок

Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок

Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок

ST2080-OSP предназначен для измерения OSP (органическое защитное покрытие) толщины медного основания PCB/PWB. Как неразрушающий метод оптической метрологии с использованием Анализатор OSP толщины (органическое защитное покрытие) ST2080-OSPспектроскопической рефлектометрии, он позволяет определить среднюю толщину покрытия и предоставить подробную информацию 3D профиля поверхности в режиме реального времени без пробоподготовки

Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок

Система измерения толщины пленок была разработана для научных исследований и разработок в лабораториях для измерения толщины тонких пленок, а также в системах контроля качества и мониторинга процесса в линиях по производству; полупроводников, FPD, в нанотехнологий, электронных материалов и специальных пленок