IM-60 - это усовершенствованная модель сканирующего микроскопа, которая удовлетворяет различным целям анализа с разрешением 10 нм и увеличением до 60,000х. Детектор SE (вторичных электронов) и детектор BSE (электронов с обратным рассеянием) можно устанавливать избирательно. Базовый вариант состоит из трех (ручных) осей: X, Y, R. Вы можете изменить конфигурацию на пятиосный автоматический каскад с помощью дополнительных оси Z и вращения при необходимости. Вы также можете изменить конфигурацию либо на настольный тип, либо на башенный (несущий) тип в зависимости от назначения и среды установки.
Сканирующий растровый электронный микроскоп SS-300 - это модель, предназначенная для исследования крупных образцов и наблюдения изображений поверхности при большом увеличении до 300,000х и разрешении 3 нм. В качестве анода используется либо вольфрамовая нить, либо нить LaB6. Функционал микроскопа расширяется с помощью множества различных функций.