Спектрометр HP8000 с быстрым сканированием

1. Спектрометр HP8000 с быстрым сканированием
2. Оптическое волокно с разъемами

3.Стандартный источник света

4. Интегрирующая сфера
5. Цифровой измеритель мощности

6.Стандартная  приборная кабина

ЖК-дисплей, высокая скорость тестирования, встроенный источник постоянного тока постоянного тока 40 В / 5  А.

ЗАЯВЛЕНИЕ

Хороший машинный интерфейс с операционной системой Windows, стандартным интерфейсом SA905 и высокоскоростными оптическими спектрами CCD. Подключившись к принтеру, можно напрямую распечатать отчет об испытаниях, а данные можно сохранить в виде файла Excel для целей анализа. ПК с соответствующими устройствами может полностью удовлетворить фототический, хроматический и электрический анализ и другие подобные эксперименты. Он применяется в лабораториях, отделе контроля качества, а также на производственной линии.

ХАРАКТЕРИСТИКИ И ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Система может определять спектральное распределение мощности, координаты цветности, коррелированную цветовую температуру, индекс цветопередачи, цветовое различие, пиковую длину волны, спектральную полуширину, доминирующую длину волны, чистоту цвета, световой поток, тест на фотометрию, колориметрию, электрические характеристики светодиодов.

1. Скорость тестирования: 5 мс-2 с;
2. Диапазон длин волн: 380~780нм;
3. Точность длины волны: ± 0,3 нм;
4. Точность координат цветности: ±0,0015（x, y）；
5. Диапазон доминирующей длины волны: 380~780 нм;
6. Точность доминирующей длины волны: ± 1,5 нм;
7. Корреляционная цветовая температура: 1000—100 000 К, разрешение: 1 К.
8. Диапазон силы света: 10 мкд～3000 кд (доступно с оптическим устройством)
9. Диапазон силы света: 10млм～200000лм(в зависимости от размера сферы);
10. Точность электрических параметров: ± 5%；
11. Точность фотометрии: класс 1.
12. Диапазон прямого тока (_IF): 0,01 мА～5000 мА;
13. Диапазон прямого напряжения (V_F): 0,01～40,00 В;
14. Диапазон обратного тока (_IR): 0,01 мкА~200 мкА;
15. Диапазон обратного напряжения (V_R): 0,01 ~ 30,00 В;
16. Высокая степень интеллектуальных инструментов с высокой стабильностью и воспроизводимостью, полностью удовлетворяющих требованиям измерений CIE;