Анализатор следов элементов высокоточный рентгеновский спектрометр SUPER XRF 2400

Производитель: Skyray Instrument Показать товары
Создал: Super User

Специальная оптическая схема с использованием вторично отраженных фотоэлектронов улушает сиоотношение сигнал-шум, позволяет добиваться более низких пределов обнаружения, что делает возможным анализ следовых элементов. Специализированная система охлаждения делает инструмент более надежным а результаты более воспроизводимыми. Вакуумная система делает возможным точный анализ легких элементов: Na, Mg, Al, Si, P.

Специальная оптическая схема с использованием вторично отраженных фотоэлектронов улушает сиоотношение сигнал-шум, позволяет добиваться более низких пределов обнаружения, что делает возможным анализ следовых элементов. Специализированная система охлаждения делает инструмент более надежным а результаты более воспроизводимыми. Вакуумная система делает возможным точный анализ легких элементов: Na, Mg, Al, Si, P

 

Эксплуатационные характеристики

  • Специальная схема оптического пути с использованием меняющихся первичных мишеней
  • Оригинальная система оптического пути удовлетворяет требованиям тестирование различных микроэлементов в матрице, усиливает сигнал/шума и уменьшает пределы обнаружения
  • 400Вт источник питания рентгеновской трубки позволяет добиваться более высокой скорости счета возбужденных фотоэлектронов. Пределы обнаружения на один уровень ниже, чем при общем EDXRF анализаторах, и больше подходит для тестирования микроэлементов
  • Цифровые многоканальные технологии улучшают скорости счета до 100kcps, улучшая точность тестирования и уменьшая время тестирования
  • Система охлаждения масла обеспечивает охлаждение рентгеновского источника, что делает прибор более устойчивым
  • Оптический затвор используется при частых открываниях/закрываниях источника питания рентгеновской трубки и системы высокого давления, что влияет в свою очередь на стабильность тестов. Оснащенный оптическим затвором, спектрометр сохраняет высокое напряженя, повышая стабильность прибора
  • Вакуумная система для тестирования легких элементов
  • Автоматическая система отбора проб позволяет проводить последовательный анализ 12 образцов, каждый раз, значительно увеличивая эффективность работы

Технические характеристики

  • Диапазон измеряемых элементов: от Na до U
  • Множественные переключаемые режимы анализа: обычный РФА и анализ на вторичных фотоэлектронах
  • Диапазон содержания: 0.1ppm до 99,99%
  • Нижний предел обнаружения: 0.1 ppm
  • Спектрометр значительно улучшает пределы обнаружения опасных элементов по сравнению с обычным настольным спектрометром РФА.
  • Повторяемость: 0,1%
  • Стабильность: 0,1%
  • Температура окружающей среды: 15 до 30 C
  • Питание: AC 220V ± 5V. AC.
  • Размеры: 752 х 988 х 759 мм

Стандартная конфигурация

  • Источник рентгеновского излучения, две системы возбуждения образца
  • Рентгеновская камера Varian с мощностью 400Вт и масляной системой охлаждения
  • Автоматический переключатель коллиматоров и фильтров
  • Камера для образцов с камерой
  • HD CCD камера с высоким разрешением
  • UHRD крмениевый детектор (SDD)
  • Автоматическая турель для образцов на 12 позиций
  • Источник высоковольтного напряжения
  • Профессиональное РФА программное обеспечение

Область применения

  • Анализ микро-элементов в металлургической промышленности, анализ следов опасных элементов в металлах
  • Экологический анализ следов тяжелых металлов почве, воздухе, воде и других средах
  • Анализ следов элементов тяжелых металлов в полимерных пленках готового продукта производства
  • Анализ вредных человеческому телу элементов в промышленности драгоценных металлов
  • Анализ следов редкоземельных металлов
  • Анализ толщины суб-нанометровых напылений в промышленности металлических покрытий
  • Анализ следов вредных элементов в различных товарах народного потребления, а также игрушках
  • Лабораторные исследования
  • Экологический мониторинг
  • Аналитический контроль
  • Специализированный контроль качества
  • Химия
  • Горно-рудная промышленность
  • Промышленность строительных материалов
  • Контроль производства цемента
  • Металлургия
  • Электроника
  • Пищевая промышленность


Оборудование прошло обязательную сертификацию и признано оптимально безопасным.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр(анализатор) для анализа элементного состава в лабораторных и промышленных условиях является оптимальным решением благодаря своей функциональности и стабильностью работы. Лаборатории оснащенные оборудованием Skyray полностью решают поставленную задачу в минимальные сроки.

Диапазон анализируемых элементов Na - U
Погрешность анализа 0.05%
Предел обнаружения 0.1 ppm
Размер аналитической камеры -
Аналитический диапазон 0.1 ppm - 99.99%
Аналитическое оборудование по применению
  • Общий элементный анализ
  • Элементный анализ примесей и следов
  • Анализ руды, почвы, шлаков
Аналитическое оборудование по методу анализа РФА энергодисперсионный

Местоположение

Задать вопрос по этому товару