Пункт | Детали |
---|---|
Рентгеновская трубка | Мишень Mo / Rh / W / Ag (опция), 50 кВп, 1 мА |
Система обнаружения | Si-Pin диод (опция: SDD, FSDD) |
Разрешение энергии | Si-Pin диод: 149 эВ на полувысоте при Mn Kα / Опция: SDD (125 эВ), FSDD (122 эВ) |
Коллиматор |
Коллиматор 0,3 (опция: 0,05, 0,1, 0,2, 0,5, 1 мм) Капиллярная оптика 50 мкм Ручная / автоматическая смена ступени |
Элемент обнаружения | Ti (22) ~ U (92) |
Тип образца | Твердое / жидкое / порошковое, многослойное |
Размер камеры для образцов | 660 мм X 450 мм X 150 мм / 500 мм X 450 мм X 150 мм |
Возможное расстояние перемещения предметного столика |
300 мм X 200 мм X 150 мм / 220 мм X 200 мм X 150 мм |
Размер образца таблицы | 310 мм X 260 мм |
Ключевая особенность |
Автоматический / ручной режим сцены Измерение толщины покрытия: Общие, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев) |
Увеличение камеры | 40 ~ 80 х |
Безопасность | 3-точечная блокировка |
Тип отчета |
Excel, PDF / вывод Пользовательская форма |
Ключевые преимущества |
Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев) Удобное управление сценой Возможно многоточечное измерение Скрининг RoHS (опция) Удаленная поддержка через Интернет |
заявка |
Проверка продукции на соответствие международным экологическим нормам (Соответствует RoHS, WEEE, ELV) Опасные материалы (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Оборудование для сортировки Анализ покрытия автомобильных деталей, Электронная плата (PCB), например, конденсатор Анализ однослойного, многослойного, легированного покрытия Толщина с соотношением состава может быть измерена во времени в металлизации сплава |
Рентгеновский толщиномер iEDX-150T
Категория: Толщиномеры
Производитель: ISP Co., Ltd
Показать товары
Аналитическое оборудование по применению |
|
Аналитическое оборудование по методу анализа | РФА энергодисперсионный |