Фильтры по каталогу оборудования
Новости
Радоника планирует проведение серии семинаров для банков по методике комплексной проверки золота
Компания Радоника планирует проведение ряда специализированных семинаров для представителей банковского сектора, посвящённых современным подходам к подтверждению подлинности, марки и пробы золота.
В центре внимания — разрабатываемая методика комплексного контроля, основанная на сочетании нескольких независимых физических методов анализа. Такой подход позволяет повысить надёжность проверки и сформировать более прозрачную, воспроизводимую и документируемую процедуру оценки изделий и слитков из золота.
На семинарах планируется представить концепцию программно-измерительной системы, объединяющей результаты рентгенофлуоресцентного анализа, гидростатического определения плотности и контроля электрофизических параметров материала в единый контур принятия решения. Отдельное внимание будет уделено вопросам практического применения такой системы в банковских сценариях: приёмке, внутреннему контролю, вторичной верификации и оформлению итоговых протоколов.
Участникам семинаров будет предложено обсудить:
— актуальные риски при работе с физическим золотом;
— ограничения одиночных методов контроля;
— преимущества многофакторной проверки;
— подходы к стандартизации и аудируемости результатов;
— перспективы внедрения аттестованной методики в банковскую практику.
Компания Радоника примет участие в выставке «Аналитика Экспо» в Крокус Экспо!
Мы рады сообщить, что компания Радоника примет участие в крупнейшей отраслевой выставке «Аналитика Экспо 2026», которая пройдет с 22 по 24 апреля в Крокус Экспо, Москва.
На нашем стенде будут представлены самые передовые решения для анализа и контроля качества материалов. Среди экспонатов – широкий ассортимент приборов для научных и промышленных исследований, включая:
- РФА спектрометры: EDX6000, портативные Explorer, Cube100S
- Спектрометр толщиномер: iEDX-150T
- Оптико-эмиссионный спектрометр для металлов: OES8000S
- ИК фурье спектрометр: FOLI10
- Гиперспектральная камера: FS-23
- И другое оборудование
Все эти приборы помогут вам решать самые сложные задачи в области анализа материалов, исследований и контроля качества.
Особое предложение для посетителей выставки! Вы можете принести свои образцы на наш стенд и бесплатно заказать лабораторный тест для анализа с использованием наших передовых приборов. Это отличная возможность протестировать возможности нашей техники и получить профессиональную консультацию от наших экспертов на месте!
В этот раз мы не будем представлять WDX4000, но ждём вас на стенде, чтобы поделиться последними новинками и обсудить решения для вашего бизнеса!
Приходите на наш стенд, чтобы познакомиться с передовыми технологиями, получить бесплатный тест и обсудить решения для вашего бизнеса!
📅 Когда? 22–24 апреля 2026 года
📍 Где? Крокус Экспо, Москва, павильон №3, стенд Радоника
Ждем вас на Аналитика Экспо 2026!
#АналитикаЭкспо #Радоника #научноеоборудование #приборанализа #XRF #OES #ИКспектрометр #гиперспектральныекамеры #анализматериалов #инновации #контролькачества
Гиперспектральный анализ произведений искусства. Новая глубина исследования живописи для музеев и реставрационных мастерских.
Гиперспектральный анализ произведений искусства
Новая глубина исследования живописи для музеев и реставрационных мастерских
В эпоху, когда требования к сохранению культурного наследия становятся всё выше, традиционных методов исследования уже недостаточно. Современные технологии открывают принципиально новые возможности — и одной из самых перспективных является гиперспектральная съемка.
На представленных фотографиях — реальный кейс: исследование живописного произведения с изображением Людовика XV (датировка XVII–XVIII век) в Павловске. С помощью гиперспектральной камеры удалось получить не просто изображение, а полный спектральный “портрет” картины, раскрывающий скрытые слои и материалы.
Подробнее...Промышленный онлайн-анализ растворов и пульпы - как современная рентгенофлуоресцентная спектрометрия меняет промышленный контроль металлов
Радоника представляет промышленную систему онлайн-анализа жидкостей и пульпы на базе анализатора ROSA-100 — высокотехнологичное решение, основанное на современном рентгенофлуоресцентном (XRF) методе, адаптированном для непрерывной промышленной эксплуатации.
Это не просто анализатор — это интеллектуальный измерительный контур, позволяющий предприятиям управлять химическими процессами и металлоизвлечением в реальном времени.
Теоретическая основа метода: что такое XRF-анализ жидкостей
Принцип рентгенофлуоресцентной спектрометрии
Метод XRF основан на возбуждении атомов элементов рентгеновским излучением.
Каждый химический элемент при этом испускает строго индивидуальный спектр флуоресценции, по которому можно:
- идентифицировать элемент,
- определить его концентрацию,
- оценить состав многокомпонентных смесей.
Почему XRF идеально подходит для жидкостей и пульпы?
✔ Бесконтактное измерение
✔ Отсутствие реагентов и расходных материалов
✔ Возможность одновременного анализа десятков элементов
✔ Высокая скорость измерений
✔ Неразрушающий контроль
✔ Минимальное влияние человеческого фактора
Решения для измерения коэффициента отражения на основе спектрометров
-
ПК с программным обеспечением для управления спектрометром
-
Спектрометр
-
Источник света
-
Оптические волокна
-
Сфера интеграции отражательной способности
-
Стандарт диффузного отражения (белая доска)
|
УФ-видимый диапазон
|
Диапазон ближнего инфракрасного излучения
|
|
|
Спектрометр
|
АТФ2000П
|
АТФ8000
|
|
Источник света
|
ATG1020H
|
ATG1020H
|
|
Сфера интеграции отражательной способности
|
ATST150R или ATST150
|
ATST150R или ATST150
|
|
Диффузное отражение (доска для записей)
|
Отражательная доска
|
Отражательная доска
|
|
Оптическое волокно
|
УФ-волокно *2
|
ИК-волокно *2
|
|
Аттенюатор
|
(Необязательно, требуется дополнительное волокно)
|
|
-
Подключите адаптер питания 12 В к источнику питания и включите главный выключатель.
-
Включите источник света и дайте ему 10 минут на прогрев для достижения стабильной яркости.
-
После подключения оптических волокон дейтериевые и галогенные лампы можно включать независимо друг от друга с помощью соответствующих выключателей.
-
Подключите источник света к входному порту интегрирующей сферы, а выходной порт сферы подключите к спектрометру с помощью оптических волокон.
-
Подключите спектрометр к компьютеру через USB и запустите управляющее программное обеспечение.
-
Включите источник света с помощью прилагаемого адаптера на 12 В.
-
При выключенном источнике света соберите спектр темного сигнала (без поступления света в спектрометр).
-
Включите источник света, дайте ему прогреться в течение 10 минут, поместите стандартную белую доску для измерения диффузного отражения в отверстие для образца интегрирующей сферы и соберите спектр опорного сигнала.
-
Поместите белую доску с образцом в порт для образцов и измерьте спектр его отражения.
Uncategorised
- Категория: Uncategorised
- Просмотров: 1562
Наноматериалы - это материалы с размерами частиц от 1 до 100 нм. Их уникальные свойства делают их применяемыми в различных областях, таких как электроника, медицина, косметика, пищевая промышленность и даже строительство. Однако, из-за своей крайне маленькой размерности, структура наноматериалов может быть сложной для анализа.
Одним из основных методов анализа структуры наноматериалов является электронная микроскопия. Этот метод позволяет исследовать наноматериалы с высоким разрешением и получать информацию о их форме, размере, структуре и составе.
Существуют различные типы электронных микроскопов, такие как сканирующий электронный микроскоп (SEM) и трансмиссионный электронный микроскоп (TEM). SEM используется для изучения поверхностной структуры наноматериалов, в то время как TEM позволяет изучать структуру внутри образца.
Основным преимуществом электронной микроскопии является её высокая разрешающая способность, которая позволяет исследовать наномасштабные объекты и детали структуры материалов на атомарном уровне. Благодаря этому исследователи могут получать уникальные данные о свойствах наноматериалов и оптимизировать их для различных приложений.
Электронная микроскопия также позволяет изучать изменения в структуре наноматериалов под воздействием различных факторов, таких как температура, давление или химические реакции. Это помогает понять взаимодействие наноматериалов с окружающей средой и разработать новые материалы с улучшенными характеристиками.
Таким образом, электронная микроскопия играет важную роль в изучении структуры наноматериалов и является неотъемлемым инструментом для исследования и разработки новых материалов с уникальными свойствами.
Компания Лаб-Тест
- Категория: Uncategorised
- Просмотров: 1452
Компания "Радоника.COM" приглашает Вас посетить выставку, которая пройдет с 16 по 18 октября в выставочном центре МВЦ "Крокус Экспо"
22-АЯ МЕЖДУНАРОДНАЯ ВЫСТАВКУ ЛАБОРАТОРНОГО ОБОРУДОВАНИЯ И ХИМИЧЕСКИХ РЕАКТИВОВ
На мероприятии нами будут представлены новинки спектрального аналитического оборудования компаний лидеров производства Китая и Южной Кореи, а также собственные разработки компании Радоника.COM!
Будем рады видеть Вас в числе наших гостей и надеемся, что это будет интересное и вдохновляющее событие. ЖДЁМ ВАС!
- Категория: Uncategorised
- Просмотров: 2375
|
В большинстве лазерных приложений необходимо фокусировать, модифицировать или формировать лазерный луч с помощью линз и других оптических элементов. В общем, распространение лазерного луча можно аппроксимировать, предполагая, что лазерный луч имеет идеальный гауссовский профиль интенсивности, соответствующий теоретической TEM 00 режим. Когерентные гауссовы пучки обладают особыми свойствами преобразования, которые требуют специального рассмотрения. Чтобы выбрать лучшую оптику для конкретного применения лазера, важно понимать основные свойства гауссовых лучей. К сожалению, выходные данные реальных лазеров не являются истинно гауссовскими (хотя гелий-неоновые лазеры и аргон-ионные лазеры являются очень близким приближением). Чтобы учесть эту дисперсию, добротность M 2(называемый коэффициентом «М-квадрата») был определен для описания отклонения лазерного луча от теоретического гауссова. Для теоретического гауссиана М 2 =1; для реального лазерного луча М 2 >1. Гелий-неоновые лазеры обычно имеют коэффициент М 2 меньше 1,1. Для ионных лазеров коэффициент М 2 обычно составляет от 1,1 до 1,3. Коллимированные диодные лазерные лучи ТЕМ 00 обычно имеют М 2 в диапазоне от 1,1 до 1,7. Для высокоэнергетических многомодовых лазеров M 2 коэффициент может достигать 3 или 4. Во всех случаях фактор М 2 , который значительно варьируется, влияет на характеристики лазерного луча, и им нельзя пренебрегать в оптических схемах. |
|
|
В режиме TEM 00 луч, излучаемый лазером, начинается как идеальная плоская волна с гауссовым поперечным профилем излучения, как показано на рисунке ниже. Гауссова форма обрезается на некотором диаметре либо внутренними размерами лазера, либо некоторой ограничивающей апертурой в оптическом тракте. Общепринятым определением является диаметр, при котором освещенность (интенсивность) луча падает до 1/ e 2 (13,5%) его пикового или осевого значения. |
 |
| Профиль гауссова пучка (теоретическая мода TEM 00 ) | |
Страница 1 из 2